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实现极弱近红外区域测量光谱辐射计SR-NIR

更新时间:2025-02-17      点击次数:237

关于此产品

概述

近年来,“近红外区域"测量的需求不断增加,尤其是在显示器和照明市场。此外,没有测量仪器可以轻松且高精度地测量这一点。鉴于这种情况,我们基于SR系列光谱辐射计所积累的技术,开发了“SR-NIR近红外光谱辐射计"。该产品与SR系列光谱辐射计配合使用,可以测量380nm至1030nm的光谱辐射度。

■ 特点

- 可测量FPD发射的微弱近红外光- 实现近红外区域(600 至 1,030 nm)光谱分布的高精度测量・与本公司的SR系列光谱辐射计组合使用时,可以测量从可见光到近红外(380至1030nm)的光谱分布。

主要应用

・观察各种FPD的近红外输出・Ne、Ar发射线输出观察- 光学薄膜的近红外透射特性评价等。- 其他光源的近红外光谱测量


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