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详细介绍
玉崎科学半导体设备理学Rigaku射线胶片厚度
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XTRAIA XD-3200 是一款多功能 射线计量工具,可在大批量生产中以高通量对毯式和图案化 300 mm 和 200 mm 晶圆上的单层和多层薄膜进行无损分析。
测量结果包括通过 射线反射率 (XRR) 测量的膜厚度、密度和粗糙度,以及通过高分辨率 XRD (HRXRD) 测量的外延膜厚度、成分、应变、晶格弛豫和结晶度。
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