全国服务咨询热线:

0755-26803456

当前位置:首页  >  产品中心  >  Rigaku理学  >  半导体测量设备  >  ZSX Primus IVi半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪
简要描述:

半导体设备ZSX Primus IVi日本理学Rigaku荧光射线分析仪
半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

扫描式荧光射线分析仪
底照式扫描荧光射线分析仪

  • 产品型号:ZSX Primus IVi
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-09-29
  • 访  问  量:89

相关文章

RELATED ARTICLES

详细介绍

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪


轻松共享应用程序

通过为顶部照明型 ZSX Primus IV 和底部照明型 ZSX Primus IVi 创建通用的硬件和软件平台,可以在两个型号之间以及同一型号之间轻松共享应用程序。


ZSX Primus IVi 概述

SQX分析配备*的自动判断功能

SQX分析是利用定性分析结果进行定量分析的无标准FP分析。

・评估重元素产生的高次谱线的影响,自动选择最佳测量条件,实现更准确的SQX分析
・新增恒定角度测量设置模式,可在EZ扫描中检测微量元素
・EZ配备超高速需要不到 2 分钟测量时间的扫描模式
- 支持多层薄膜样品的筛选分析
- 任何样品薄膜都可以添加样品薄膜校正
- SQX 散射线 FP 分析(针对粉末和聚合物)现在直径为 30 毫米兼容
- 重新计算 SQX 时可以更改为 SQX 散射线 FP 分析

氦气气氛快速置换

通过在样品室和光谱室之间添加真空隔板,可以缩短更换氦气氛所需的时间。此外,通过增加液体样品保持器检测机构,将液体样品引入真空气氛中不会出现错误,并且可以放心地进行测量。

用于轻元素的气体保护正比计数器 S-PC LE

气体保护型检测器在分析过程中产生零气体排放。 探测器无需安装气瓶。

使用 WDX 系统进行点/映射分析

通过采用r-θ驱动样品台,X射线强度不会因测量点而变化,并且映射位置分辨率为100μm,可以分析印刷电路板上的布线等微小部件,各种材料中的夹杂物是。

ZSX Primus IVi 规格

产品名称ZSX Primus IVi
方法波长色散射线荧光分析 (WDXRF)
目的固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析
技术扫描波长色散 X 射线荧光分析 (WDXRF)
主要部件Rh 目标 4kW 或 3kW,样品交换器最多 60 个样品
主要选项He替代、r-θ驱动样品台、点/映射分析、样品观察机制
控制(电脑)外部 PC、MS Windows® 操作系统、ZSX 指导软件
机身尺寸840(宽)×1250(高)×980(深)毫米
体重(身体)500公斤
电源三相200V,40A,50/60Hz


产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

全国统一服务电话

19270304869

电子邮箱:lcz@tamasakisci.com

公司地址:龙华街道龙华大道906号电商集团7层

扫码加微信