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半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪
简要描述:

半导体设备ZSX Primus III NEXT日本理学Rigaku荧光射线分析仪
半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

扫描式荧光射线分析仪
采用顶照法的扫描荧光射线分析仪,可在生产控制分析中发挥其威力。

  • 产品型号:ZSX Primus III NEXT
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-09-29
  • 访  问  量:133

详细介绍

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪

半导体设备日本理学Rigaku荧光射线分析仪


配备广泛的安全保障机制和功能

顶部照明方式

由于X射线从样品上方照射,即使粉末颗粒从样品中散射,光学系统也不会受到影响。不需要薄膜来防止样品掉落。 ZSX Primus III NEXT进一步抑制了灰尘流入设备内部。


ZSX Primus III NEXT 概述

电脑异常时测量时自动排出样品功能

如果在测量分析样品时操作系统出现故障,分析仪配备了保护功能,可防止分析样品无意中长时间留在测量设备中,导致设备和样品损坏。

设置用户对软件的访问级别

可以为每个操作员设置软件的访问级别。这可以防止由于操作错误而导致数据库更改或删除。

快速分析

通过在X射线计数系统中安装数字多通道分析仪(D-MCA:1024通道规格),我们通过高速数字处理实现了高达高计数率范围的计数线性。通过高速数据处理和各驱动单元的高效控制,与传统设备相比,定量分析的吞吐量提高了21%。

环保设计

・检测器无需气体

还可以安装环保型轻元素气体保护正比计数器(S-PC LE)。由于检测器不需要供气,因此即使在难以获得或安装高压气体的地方也可以安装该装置(可选)。

・节能设计

除了减少冷却水量和PR气体流量外,还具有在不进行分析时自动降低X射线输出的节能操作功能以及自动断电功能。

・加强对测量和分析的支持

我们加强了对经过验证的ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi软件<ZSX Guidance>的常规分析,并充分利用D-MCA数据来提高准确性。另外,获得的定量分析结果的误差可以以标准差的形式显示,可以有效地评价分析值的可靠性。
调度程序功能可简化日常分析管理(自动启动+自动漂移校正功能),大大减少分析工作前准备工作所需的人力。

扩展应用程序包

与旗舰机 ZSX Primus IV / ZSX Primus IVi 兼容的行业特定应用程序包也可以与该设备 ZSX Primus III NEXT 一起使用。

 轻松共享应用程序

通过与顶照式ZSX PrimusIV、ZSX Primus III NEXT和底照式ZSX Primus IVi创建通用的硬件和软件平台,可以在三个型号和同一型号之间轻松共享应用程序。

ZSX Primus III NEXT 规格

产品名称ZSX Primus III NEXT
方法波长色散射线荧光分析 (WDXRF)
目的固体、粉末、合金和薄膜的元素分析
技术扫描波长色散射线荧光分析 (WDXRF)
主要部件3kW封闭式X射线管,10晶体自动交换器
选项48 个样品自动进样器(托盘)
轻元素气体保护正比计数器 (S-PC LE)
控制(电脑)外部 PC、MS Windows® 操作系统、ZSX 指导
机身尺寸1310(宽)×1508(高)×890(深)毫米
质量(主体)约620公斤
电源设备:3相,200V,40A
计算机:100V,10A


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