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详细介绍
玉科供应ESPEC爱斯佩克冷热冲击试验箱
玉科供应ESPEC爱斯佩克冷热冲击试验箱
ESPEC TSA-203EL-W冷热冲击试验箱的核心工作原理是:通过气动风门快速切换,在静态的样品区交替导入高温或低温空气,实现对电子元器件等产品的高速温度冲击测试。
这是一款“空气对空气(Air-to-Air)"的冷热冲击试验箱,并且与TSA-43EL-A一样,属于“样品静止"型设备,样品在测试过程中保持不动,避免了因移动带来的额外应力,确保测试结果更准确。
TSA-203EL-W拥有独立的高温区和低温区,样品被安放在中间的样品篮中。测试时,通过气动风门(Damper) 的快速开合,将对应温区的空气吹入样品区,使样品经历高温或低温的快速冲击。
为实现并维持温度,设备内部有两套核心系统协同工作:
制冷系统:提供低温环境
并列式冷冻系统:采用两台小型冷冻机并列配置,共同工作以提供的制冷能力。
高效压缩机:使用涡旋式压缩机(Scroll Compressor) 和电子膨胀阀(Electronic Expansion Valve),代表了较新的制冷技术,能在保证性能的同时提升能效。
旁路控制:通过“旁路控制技术"精确调节制冷输出。在低温区温度稳定后,使用电子膨胀阀进行精细调节,实现节能。
加热与空气循环系统:提供高温与均匀性
高温区配备高效加热器,可将温度迅速提升至+200℃。
通过调风板调整风量、风速及风向,确保试验箱内温度分布均匀。
准备阶段:将测试样品放入样品篮,并设定好高/低温、循环次数等参数。
预冷/预热:制冷系统将低温区降至设定低温(低-65℃),加热系统将高温区升至设定高温(最高+200℃)。
高温冲击:风门动作,将高温区的热空气导入样品区,对样品进行高温冲击。
低温冲击:风门快速切换,将低温区的冷空气导入样品区,对样品进行低温冲击。
循环测试:根据设定,重复步骤3和4,完成多次温度循环冲击。
内部容积:200升(约7立方英尺)。
温度范围:高温曝露范围 +60℃ 至 +200℃,低温曝露范围 -65℃ 至 0℃。
温度恢复时间:在特定条件下(如从-40℃升至125℃),温度恢复时间在5分钟以内。
样品负载能力:在特定条件下,可承载16kg的塑料封装IC样品。
传感器位置:温度传感器位于试样上风口。
冷却方式:该型号为水冷(Water-cooling) 方式。
气流设计:采用水平气流设计,确保测试结果的均匀性。
节能模式:可自动演算最短的预热/预冷时间,优化系统输出,减少电力消耗。
无霜运转(选购):通过技术,可保证最长500小时(或1000次循环)的无霜运行。
TSA-203EL-W是一款大容量(200升)、样品静止型的冷热冲击试验箱。它通过风门切换实现两温区快速冲击,并利用并列式冷冻系统、涡旋压缩机和电子膨胀阀等先进技术在保证性能的同时降低能耗。其大容量和高负载能力使其非常适合较大型的电子模块、汽车电子部件等产品的可靠性测试。
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