在光电器件、微机电系统(MEMS)和光子学等前沿研究领域,对石英、玻璃、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)等硬脆材料的精密微加工需求日益迫切。传统电感耦合等离子体(ICP)刻蚀设备在处理这类材料时,往往面临等离子体损伤大、刻蚀速率不足、均匀性难以控制等挑战。日本ULVAC爱发科凭借其在真空技术领域的深厚积累,推出了搭载NLD(Neutral Loop Discharge,磁性中性线放电)等离子源的研发级干法刻蚀设备——NLD-570。
NLD-570是面向研究开发(R&D)领域的NLD干法刻蚀设备,以低压、低电子温度、高密度的等离子体特性为核心优势,专为石英、玻璃、水晶、LN、LT等硬质材料的高精度刻蚀而设计。该设备采用单腔室、单晶圆真空负载锁结构,配备自动化晶圆传输系统,可支持8英寸及以下规格的晶圆加工,兼具工艺灵活性与紧凑性。与爱发科NE系列ICP干法刻蚀设备面向LED量产应用不同,NLD-570更侧重于研发环境下的材料工艺开发和原型验证,在光学器件、MEMS、光子学等前沿领域具有独特的工艺优势。
NLD(Neutral Loop Discharge)是ULVAC爱发科自主研发的创新型等离子源技术。与传统等离子源不同,NLD通过独特的磁性中性线放电机制,能够在极低的气压条件下产生超高密度且电子温度极低的等离子体。
这一技术突破的核心价值在于:低电子温度意味着等离子体对晶圆表面的物理轰击损伤显著降低,从而大幅减少刻蚀过程中的侧壁损伤和表面缺陷;而高密度等离子体则保证了足够的活性反应粒子浓度,确保刻蚀速率和工艺效率。
NLD-570的核心技术在于其搭载的磁中性环路放电等离子源。该技术源于上世纪90年代爱发科的研究成果。其物理原理如下:
设备在刻蚀反应腔体外部设置一组三个稳态通电线圈,通过精确调节各线圈的电流,在腔体内形成具有磁中性环路(Neutral Loop)区域的特定磁场分布。当在此磁场区域内施加交变电场时,磁中性环路区域内的电子展现出独特的“蜿蜒运动" ——在此运动过程中,电子与中性气体分子发生非弹性碰撞并使其电离,从而在低压条件下维持稳定的高密度等离子体。
这种独特的放电机制使得NLD能够在0.1 Pa~1 Pa的极低气压范围内产生密度≥1×10¹¹ cm⁻³的高密度等离子体,为精密刻蚀提供了理想的等离子体环境。
与主流的ICP(电感耦合等离子体)刻蚀方法相比,NLD技术在多个关键维度上实现了显著提升:
| 对比维度 | ICP方式 | NLD方式(NLD-570) |
|---|---|---|
| 工作气压 | 较高(通常数Pa以上) | 更低(0.1 Pa~1 Pa) |
| 等离子体密度 | 中等 | 更高(≥1×10¹¹ cm⁻³) |
| 电子温度 | 较高 | 更低 |
| 等离子体损伤 | 较大 | 显著减小 |
| 适用材料 | 以硅基为主 | 石英、玻璃、LN、LT等均可 |
NLD技术在更低气压下维持高密度等离子体的能力,使其在刻蚀深宽比较大的结构时具有天然优势——更低的气压意味着更长的平均自由程,离子可以更垂直地轰击晶圆表面,从而实现更优异的各向异性刻蚀和轮廓控制。
此外,NLD通过外部磁场分布的控制实现对等离子体密度分布的空间调控,有助于提升大尺寸晶圆的刻蚀均匀性。这一特性对于8英寸晶圆的均匀加工尤为重要。
NLD-570采用单腔室、单晶圆真空负载锁(Load Lock)结构,配备自动化晶圆传输系统。系统软件由导航模块、中心模块和状态模块三个模块构成,操作界面直观易用。
核心系统配置如下:
| 参数项 | 规格指标 |
|---|---|
| 适用晶圆尺寸 | 8英寸(可向下兼容) |
| 腔体材质 | 电抛光铝合金,带加热系统(≥50℃),内壁带防腐蚀涂层 |
| 等离子源 | 双RF电源:ICP功率≤2000W(13.56 MHz),偏置RF功率≤500W(12.5 MHz) |
| 自动匹配器 | 搭载双通道自动匹配器 |
| 极限真空度 | ≤6.7×10⁻⁴ Pa |
| 本底真空 | ≤10 Pa |
| 基底温度范围 | -20℃~+40℃(冷却循环系统) |
| 等离子体密度 | ≥1×10¹¹ cm⁻³ |
| 刻蚀均匀性 | <3% |
| 终点检测 | 光发射光谱(OES),波长范围200 nm~950 nm |
| 静电吸盘 | 支持8英寸晶圆,可实现均匀热传导 |
NLD-570支持多种材料的刻蚀工艺,主要包括以下几类:
石英及玻璃材料:石英刻蚀速率可达>1 μm/min,Pyrex玻璃可达>0.8 μm/min。在使用光刻胶(PR)作为掩模条件下即可实现高性能的深SiO₂刻蚀,无需使用硬掩模即可实现深度100μm以上的刻蚀。
LN/LT基板:适用于铌酸锂、钽酸锂等压电材料的精密加工。
Si基材料:深硅刻蚀速率可达2~10 μm/min;SiO₂和SiNx的刻蚀速率可达20~150 nm/min。
NLD-570在工艺控制方面展现出的性能:
优异的轮廓控制与表面粗糙度:可实现各种形状及高表面光滑度的刻蚀工艺
出色的均匀性控制:面内刻蚀均匀性<3%
灵活的工艺化学:支持多种工艺气体和化学反应路径
精准的温度控制:配备静电吸盘(ESC)和氦气背冷系统,实现晶圆温度的精确调控
终点检测:搭载光发射光谱(OES)终点检测系统,波长范围200 nm~950 nm
NLD-570标配单晶圆真空负载锁,专为研究开发场景设计。其紧凑的系统尺寸和灵活的工艺配置,使其成为大学实验室、研究机构和企业的原型验证与工艺开发的理想平台。
NLD-570提供从掩模刻蚀到石英/玻璃刻蚀的各类工艺解决方案,覆盖石英、高硬玻璃、硼硅酸玻璃、水晶、LN、LT等多种硬质材料。无论是对表面平滑度要求高的光学器件刻蚀,还是对深宽比要求严格的MEMS结构加工,NLD-570均能提供稳定的工艺表现。
NLD-570的腔体维护简便高效。得益于NLD等离子体的可控特性,设备的干法清洁更加容易,这对于研发环境中频繁切换工艺的用户而言,意味着更高的设备利用率和更低的运行成本。
NLD-570支持可选配晶圆盒式腔体(Cassette Chamber) ,可根据用户需求灵活升级自动化程度,适应从单晶圆研发到小批量生产的过渡需求。
NLD-570凭借其对石英、玻璃、LN、LT等材料的刻蚀能力,在以下前沿领域得到广泛应用:
光学器件领域:
光波导(Waveguide)
光放大器(Amplifier)
光开关(Optical Switch)
衍射光栅(Diffraction Grating)
调制器(Modulator)
微光学与光子学领域:
凹凸型微透镜(Microlens)
光子学结晶(Photonics Crystal)
生物医疗与微流控领域:
微全分析系统(μ-TAS)
流体路径制作
MEMS与传感器领域:
麦克风空腔蚀刻
加速计梳齿结构
射频滤波器背面空腔蚀刻
ULVAC爱发科NLD-570干法刻蚀设备,磁性中性线放电(NLD)等离子源技术为核心,实现了低压(0.1 Pa~1 Pa)、高密度(≥1×10¹¹ cm⁻³)、低电子温度的等离子体特性,在石英、Pyrex玻璃、LN、LT等硬脆材料的精密刻蚀方面展现出的工艺能力。
相比传统ICP刻蚀方式,NLD技术在等离子体损伤控制、各向异性刻蚀、工艺均匀性和材料适用广度等方面实现了全面超越。石英刻蚀速率超过1μm/min、Pyrex玻璃超过0.8μm/min的出色性能,配合<3%的刻蚀均匀性和优异的轮廓控制能力,使其成为光学器件、微透镜、光子学结晶和μ-TAS等前沿研发领域的理想选择。
作为一款研发级设备,NLD-570采用单腔室单晶圆真空负载锁结构、支持8英寸及以下晶圆、配备双通道自动匹配器和OES终点检测系统,为研究人员提供了兼具工艺灵活性、材料广谱性和操作便捷性的干法刻蚀平台。无论是致力于光子集成芯片研发的前沿机构,还是探索新型光电器件工艺的科研团队,NLD-570都提供了一个经过市场验证、技术的研发级干法刻蚀解决方案。