TOPCON拓普康UD-T36T2精品受光器

探测器类型：硅光二极管。

测量波长范围：300 - 390nm。

峰值灵敏度波长：约 355nm。

探测器窗口直径：φ3mm。

测量功能丰富：具备实时照度测量、峰值测量、累计光量测量、偏差测量等多种功能，可满足不同场景下对紫外线测量的需求。

使用便捷：装置采用耐热金属机身，附带耐热盖，能在一定程度上抵御高温环境，确保测量更稳定。设有根据光源照度设定最佳范围的自动模式，操作更加简单方便，提高了测量效率。通过安装 2m 延长装置（另售），可将受光部设置在远程位置进行测量，增加了测量的灵活性。

数据处理与输出方便：标准配备内置存储器、USB 输出、模拟输出，可方便地存储和传输测量数据。标配可在 PC 上使用的测量程序，便于对测量数据进行进一步的分析和处理。

供电方式灵活：支持 USB 总线供电操作，也可使用 3 节 AAA 电池（市售）供电，方便在不同环境下使用。

辐照度显示范围：分为多个量程，分别是 0.01 - 60.0mW/cm²、0.1 - 600.0mW/cm²、1 - 6000mW/cm²。

积分辐照度范围：分为多个量程，分别是 0.01 - 999.99mJ/cm²、0.1 - 9999.9mJ/cm²、1 - 99999mJ/cm²。

模拟输出：不同量程下，1mV 对应的辐照度分别为 0.03mW/cm²、0.3mW/cm²、3mW/cm²。

校准精度：±2%。

线性度：±3%。

数据采样：50Hz 时采样时间为 10ms，采样率为 50 次 / 秒；60Hz 时采样时间为 8.33ms，采样率为 60 次 / 秒。

工业生产：适用于电气和电子元件的固化、密封和粘合处理过程中紫外线照射设备的灯强度管理。在印刷电路板的印刷、干燥和安装线中，可用于监测紫外线照射设备，确保紫外线照射强度符合工艺要求。也可用于半导体、FPD 等光刻工艺中，管理光刻设备中的曝光灯，保证光刻工艺的精度和一致性。

设备维护：适用于各种 UV 照射设备 UV 灯的维护和管理，如 UV 消毒设备、灭菌设备、改性设备、固化设备、清洗设备、表面处理设备等。通过定期测量紫外线强度，可及时发现 UV 灯的老化或故障，以便及时更换或维修，保证设备的正常运行。

研发与制造：在各种 UV 灯开发部门、制造工序中，可用于检查及评估 UV 灯的性能，帮助优化 UV 灯的设计和生产工艺。