TOPCON拓普康二维光谱辐射计：精准捕捉每一缕光的科学利器

更新时间：2025-12-01 点击次数：17

高分辨率、高精度与高效率的结合，正重新定义光学测量的边界。

在现代工业与科研领域，光的精确测量已成为显示技术、照明工程、材料科学等多个行业发展的关键。传统单点测量设备已难以满足对复杂表面光学特性全面分析的需求。

TOPCON拓普康的二维光谱辐射计应运而生，以其面测量技术实现了从“点"到“面"的跨越，为光学测量设立了新标准。

01 产品系列与架构：从SR-5000到SR-5100的技术演进

TOPCON拓普康二维光谱辐射计产品线主要包含SR-5000/5000H和SR-5100等多个型号，满足不同场景下的精确测量需求。

SR-5000系列作为基础型号，配备了140万像素彩色CCD图像传感器，有功像素达1376×1024，数据位为14bit，能够捕捉细致的光学信息。

而SR-5100则实现了技术飞跃，将分辨率提升至500万像素(2448×2048)，实现了更高精度的二维分光测量。

这些仪器采用非破坏、非接触的测量方式，可同时对500万点进行分光测量，准确分析光源的光谱特性、材料分光穿透率及物体的分光反射率特性。

TOPCON拓普康二维光谱辐射计融合了多项技术，构成了其在光学测量领域的核心竞争力。

SR-5000系列采用1nm的分光测光方式，波长精度达±0.5nm (Hg波宽线上、高精度模式时)，光谱波宽为7nm(半波宽)。

SR-5100更将波长精度提高到±0.3nm，实现了单点式分光辐射计同等性能的二维分光测量。

SR-5000的测定范围覆盖0.5 - 5,000,000 cd/m²，而SR-5100则进一步将测量量程提升至170亿cd/m²的高亮度范围。

这种宽广的量程使得它能够同时测量极低亮度和超高亮度的物体，满足多种条件下的测量需求。

SR-5000标准配置f=32mm对物镜，搭配广角辅助镜时可达到f=24mm。

SR-5100则支持分光及XYZ两种测量模式，可根据需要发挥各优点的高精度及高速的符合机型。

TOPCON拓普康二维光谱辐射计的应用范围广泛，覆盖多个行业的光学测量需求。

在显示技术领域，它们可用于LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及关联材料等的亮度、色度、分光光谱的评价。

对于快速发展的Micro/Mini LED显示屏及相关材料，也能进行精确的光学特性评估。

汽车产业同样受益于这类仪器，可用于汽车仪表盘及内外装照明的发光分布特性、分光光谱的评价。

LED照明、OLED照明的发光部的亮度、色度均匀性、分光光谱均匀性的评价也是其重要应用场景。

SR-5100可用于纤维染织物的分光光谱评价，以及光学膜及涂层的不均匀、干涉条纹的测量。

SR-5100HM与显微镜结合，可用于病理组织的染色状态的些微差异的解析及量化评价测量，为医疗诊断提供重要依据。

TOPCON拓普康二维光谱辐射计不仅仅是一种测量工具，更是推动多个行业技术进步的催化剂。

其二维分光测量能力使研究人员和工程师能够直观看到整个被测面的光学特性分布，识别单点测量难以发现的不均匀性和缺陷。

随着显示技术和照明行业的快速发展，对测量仪器提出了更高要求。TOPCON拓普康通过SR-5100等新型号的产品，不断拓展测量极限，满足日益增长的高精度、高效率测量需求。

此外，近红外分光辐射计SR-NIR的推出，使测量波长范围扩展到380nm-1030nm，满足了显示器及照明市场对“近红外领域"日益增长的测定需求。

从实验室的精密研究到工业生产线上的质量检测，TOPCON拓普康二维光谱辐射计正以其的性能和精确的数据，帮助工程师和研究人员解锁光的奥秘。

正如一位专家所言，这些仪器犹如给科学家长了“火眼金睛"，让最细微的光谱差异也无处可藏。