日本OTSUKA玉崎科学供应大冢FE-300光学膜厚量测仪$n日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪$n这是一款小型、低成本的膜厚计，采用高精度光学干涉法测量膜厚，操作简单。$n我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主体内，实现稳定的数据采集。$n尽管价格低廉，但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。