日本OTSUKA玉崎科学供应大冢FE-300光学膜厚量测仪$n日本OTSUKA玉崎科学供应大冢光学膜厚量测仪$n这是一款小型、低成本的膜厚计，采用高精度光学干涉法测量膜厚，操作简单。$n我们采用一体式外壳，将必要的设备存储在主体内，实现稳定的数据采集。$n尽管价格低廉，但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。

OTSUKA日本大塚电子高灵敏度光谱HS-1000辐射计$nOTSUKA日本大塚电子高灵敏度光谱辐射计$n这是一款光谱辐射亮度计，可以从低亮度到高亮度进行高速且高精度的测量。$n利用热电冷却线性阵列传感器，大冢电子光谱光学设计和信号处理电路在宽亮度和波长范围内实现了低噪声、高精度测量。

现货日本otsukae日本进口多通道光谱仪$n多功能多通道光谱探测器，支持紫外到近红外区域。频谱测量仅需 5ms 即可完成。用作标准设备的光纤使其可以与各种测量系统一起使用，而无需样品类型。除了显微光谱、光源发射、透射/反射测量之外，与软件结合，还可以进行物体颜色评估、膜厚测量等。