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超弱近红外区域的测量 分光辐射计 SR-NIR

更新时间:2025-03-05      点击次数:146

关于本产品

■ 概述

近年来,特别是在显示器和照明市场,对“近红外"测量的需求越来越大。 此外,没有能够轻松准确地测量这一点的测量仪器。 在这种情况下,我们以 SR 系列光谱辐射计中培养的技术为基础开发了“近红外光谱辐射计 SR-NIR"。本产品可与 SR 系列光谱辐射仪结合使用,以测量 380 nm ~ 1030 nm 的光谱辐射度。

■ 特点

・可以测量从 FPD 发出微弱光的近红外区域。・高精度测量近红外区域 (600~1,030nm) 的光谱分布・与我们的 SR 系列分光辐射计结合使用,可以在可见光 ~ 近红外 (380 ~ 1030 nm) 范围内进行光谱分布测量。

■ 主要用途

・在近红外区域观察各种 FPD 的输出・观察 Ne 和 Ar 的发射线输出・光学薄膜等的近红外透射特性的评估・其他光源的近红外光谱测量


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